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产品的质量控制是一个公司能否长久发展的重要因素,为了达到满意的合格率,产品在出厂前都需先经过老化。在产线上如何才能够在不缩减老化时间的条件下提高其效率?并对进行过老化测试的产品的测试信息形成可追索文档。本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案,在老化测试的同时进行功能测试,并监测产品的测试条件和产品的输入输出参数。
 
老化就是通过让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现,避免在使用早期发生故障。在半导体业界,器件的老化问题一直存在各种争论。半导体随时可能因为各种原因而出现故障,如果不经过老化,很多半导体成品由于器件和制造工艺复杂性等原因在使用中会产生很多问题。在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷称为早期故障,老化之后的器件基本上要求100%通过这段时间。准确确定老化时间的唯一方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据。

一、 组成框图



二、 模块功能参数 

  

三、模块实物图
  
   


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